薄膜太陽(yáng)能驗(yàn)證測(cè)試程序

IEC61646-10.1目視檢查(VisualinspecTIonprocedure)

目的：檢查模塊內(nèi)任何目視缺陷。

IEC61646-10.2標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下之性能(performanceatSTC)

目的：用自然光或是A級(jí)仿真器，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下(電池溫度：25±2℃、照射度：1000wm^-2、標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布符合IEC891規(guī)定)，測(cè)試模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.3絕緣測(cè)試(InsulaTIontest)

目的：欲測(cè)試模塊中之載流零件與模塊邊框間是否有良好之絕緣

IEC61646-10.4溫度系數(shù)量測(cè)(Measurementoftemperaturecoefficients)

目的：由模塊測(cè)試中測(cè)試其電流溫度系數(shù)及電壓溫度系數(shù)，此測(cè)定之溫度系數(shù)僅在測(cè)試中所使用之照射度下有效，對(duì)于線性模塊，在此照射度±30%內(nèi)是有效的。IEC891規(guī)定了從具有代表性一批中之單體電池測(cè)量這些系數(shù)，本程序是對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)之補(bǔ)充。薄膜太陽(yáng)能電池模塊之溫度系數(shù)依賴于召涉及模塊所經(jīng)歷之熱處理過(guò)程，當(dāng)涉及溫度系數(shù)時(shí)，熱測(cè)試時(shí)之條件及照射結(jié)果等過(guò)程情況均應(yīng)標(biāo)明。

IEC61646-10.5標(biāo)稱操作電池溫度[NOCT]之量測(cè)(MeasurementofnominaloperaTIngcelltemperature)

目的：測(cè)試模塊之NOCT

IEC61646-10.6NOCT下之性能(performanceatNOCT)

目的：當(dāng)標(biāo)稱操作電池溫度與照射度為800Wm^-2時(shí)，在標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布條件下，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.7低照射度下之性能(performanceatlowirradiance)

目的：在25℃與照射度為200Wm^-2(用適當(dāng)之基準(zhǔn)電池測(cè)定)之自然光或A類仿真器，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

IEC61646-10.8戶外曝曬測(cè)試(Outdoorexposure)

目的：對(duì)于模塊暴露于室外情況下之抵抗力做出不知評(píng)估，并顯示由實(shí)驗(yàn)是測(cè)試所無(wú)法偵測(cè)出之任何劣化之影響。

IEC61646-10.9熱班耐久測(cè)試(Hot-spottest)

目的：確定模塊承受熱班加熱效應(yīng)之能力，例如封裝材料老化、電池裂紋、內(nèi)部連結(jié)失效，局部被遮光或污邊均會(huì)引起這種缺陷。

IEC61646-10.10UV測(cè)試(UVtest)

目的：確認(rèn)模塊承受紫外線(UV)之照射之能力，新紫外線測(cè)試在IEC1345中描述，如有必要在進(jìn)行該測(cè)試前模塊應(yīng)進(jìn)行光暴露。

IEC61646-10.11熱循環(huán)測(cè)試(Thermalcycling)

目的：確認(rèn)模塊抵抗由于溫度之重復(fù)變化所產(chǎn)生之熱不均勻性，疲勞及其它應(yīng)力之能力。在接收該測(cè)試之前，模塊應(yīng)進(jìn)行退火。[I-V測(cè)試前]是指退火后之測(cè)試，注意在進(jìn)行最后I-V測(cè)試前，不要將模塊暴露于光照下。

試驗(yàn)要求：

a.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

c.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

d..絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求