1.保護(hù)板過(guò)充電檢測(cè)電壓測(cè)試

測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電保護(hù)電壓

測(cè)試范圍為3.870V—4.650V

測(cè)試精度為<0.0025V

2．保護(hù)板過(guò)充電解除電壓測(cè)試

測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)充電解除電壓

測(cè)試范圍為3.550V—4.650V

測(cè)試精度為<0.0025V

3．保護(hù)板過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試

測(cè)試保護(hù)板的過(guò)充電保護(hù)延遲時(shí)間

測(cè)試范圍為<5000mS

測(cè)試精度為<1mS

4．保護(hù)板過(guò)放電檢測(cè)電壓測(cè)試

測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電檢測(cè)電壓

測(cè)試范圍為1.600V—2.700V

測(cè)試精度為<0.0025V

5．保護(hù)板過(guò)放電解除電壓測(cè)試

測(cè)試單節(jié)或多節(jié)保護(hù)板中，保護(hù)芯片對(duì)每節(jié)電池的過(guò)放電解除電壓

測(cè)試范圍為1.600V—3.600V

測(cè)試精度為<0.0025V

6．保護(hù)板過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間測(cè)試

測(cè)試保護(hù)板的過(guò)放電保護(hù)延遲時(shí)間

測(cè)試范圍為<5000mS

測(cè)試精度為<1mS

7．保護(hù)板靜態(tài)耗電測(cè)試

測(cè)試保護(hù)板的靜態(tài)耗電

測(cè)試范圍為<48μA

測(cè)試精度為<1μA

8.保護(hù)板內(nèi)阻測(cè)試

測(cè)試保護(hù)板的內(nèi)阻，包括（B+P+間電阻）+（B-P-間電阻）

測(cè)試范圍為<390mΩ+390mΩ

測(cè)試精度為<1mΩ